『壹』 做XRD的樣品要求是什麼必須是固體樣品嗎
看儀器了吧,只要是晶體都可以做xrd,不管是固體液體還是什麼的。這是我們老師說的。不過我只做過粉末,都是研磨很細的粉末,表面壓平整。你可以向你們xrd設備管理老師詢問。
『貳』 鋁合金粉體鑲嵌制備掃描試樣,用什麼樹脂
我們用
酚醛樹脂
,先把
粉末
和少許酚醛樹脂混合下,然後多放酚醛樹脂。鑲
樣機
鑲樣。
鋁合金
軟的,稍微磨下,就拋光。磨樣後不會出現
樹脂
表面
粗糙不平。
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『叄』 密胺樹脂的XRD是什麼樣的,誰做過
高聚物樹脂在做抄XRD時,怎麼制備成為襲表面平滑的樣品?有的書中介紹使用冷壓機冷壓制樣,可是實驗室沒有冷壓機;有的是說先將聚合物溶解,然後制備成為膜,但是我想通過XRD來分析結晶度,溶解過程會不會改變其結晶性呢?各位高手支招幫助一下吧,不勝感激
495950615
XRD要求樣品表面比較平整,因而壓制、成膜等方法當然都可以。關鍵看你想得到的是什麼成型條件下的樣品的結晶情況,因為不同加工歷史和熱歷史、以及溶劑等處理條件,樣品的結晶情況,包括晶型和結晶度等,都會發生很大變化。想做那種成型條件的結晶情況,就用那種熱歷史和處理條件制樣。
如果你只是手裡有一些原料,想測得樣品的本徵信息,可以問一下測試老師能否做粉末樣,因為大部分XRD除了可以做平整表面,還可以做粉末樣,
hwweven
如果你能把樣品磨成粉末,那就可以直接做粉末XRD了。
FL平凡
磨成粉末,然後弄到XRD的載玻片吧...
『肆』 XRD實驗用量
粉末?有個幾百毫克就夠了(實際用量很少,有的型號儀器只要幾毫克,多的要100毫克左右——多帶點以防不測不是嘛),塊體的話,大小不限。我做過。
『伍』 請教薄膜樣品做XRD、SEM和原子力顯微鏡測試的先後順序
薄膜樣品做XRD、SEM和AFM測試沒有固定的先後順序。在這三個測試中原子力顯微鏡更具有優勢。想了解更詳細的信息,推薦咨詢Park原子力顯微鏡。Park原子力顯微鏡的Park NX-Hivac。在高真空條件下執行掃描擴散電阻顯微鏡測量可減少所需的針尖-樣本相互作用力,從而大幅度降低對樣本和針尖的損傷。如此可延長各針尖的使用壽命,使掃描更加低成本和便捷,並通過提高空間解析度和信噪比得到更為精確的結果。因此,利用NX-Hivac進行的高真空掃描擴散電阻顯微術測量可謂是故障分析工程師增加其吞吐量、減少成本和提高准確性的明智選擇。
XRD、 SEM、AFD三者的區別:
1、 XRD(X-ray diffraction)是用來獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構。
2、 SEM(掃描電子顯微鏡)是一種微觀性貌觀察手段,可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。
3、 AFM (原子力顯微鏡)是一種表面觀測儀器,與掃描隧道顯微鏡相比,能觀測非導電樣品。
XRD通常薄膜厚度不夠的話,需要剝離研磨製成粉末樣品。SEM和AFM根據樣品的特性選擇一個測試就可以。測試時通常是選擇同批次,同條件的幾個樣品分別去測形貌和組分。按照預約測試時間來安排測試順序。
想要了解原子力顯微鏡的相關信息,推薦咨詢Park原子力顯微鏡。Park成立至今,致力於新產品和新技術的開發,為客戶解決各種技術難題,提供最完善的解決方案。Park原子力顯微鏡具有綜合性的掃描模式,因此您可以准確有效地收集各種數據類型。從使用世界上唯一的真非接觸模式用來保持探針的尖銳度和樣品的完整性,到先進的磁力顯微鏡, Park在原子力顯微鏡領域為您提供最具創新、精確的模式。
『陸』 試樣太小怎樣才能做XRD試驗
你這情況,想做斷口分析
最好是SEM+EDS,斷口形貌以及微區的成分都可以很容易得到,通過成分分析及斷口處物相形貌加之材料成分等信息可以大體判斷物相的大概歸屬。EDS成分分析結果雖可以作為物相的依據,但不是決定條件,要確切知道物相還得XRD。
你的試樣做XRD
11樓說的很清楚了,不靠譜。要清楚斷口物相可以多片疊加(盡量粘緊實,片間不要留縫),然後把端面磨平用橡皮泥粘好,再做XRD。我想斷口的物相和磨平後的面上的物相應該是一樣的,除了斷口上可能存在的缺陷(能從此處斷說明其組織和別處還是有些差距的)。
『柒』 環氧樹脂固化後的殘余應力可以用XRD(X射線衍射)方法測量嗎
可以使用光彈法抄測量,這個貌似有現成設備。XRD的試樣一般是金屬,基於布拉格定律。可聯繫上海褒博機電科技有限公司,為您提供光彈解決方案。www.servotesting.com
『捌』 請問粉末樣品怎麼進行鑲樣並進行相成分分析
我看到別人是這樣做的。粉末與環氧樹脂混合,硬化後磨製成金相式樣,再進行導電處理。
『玖』 釹鐵硼截面
先進行線切割,然後把鑄錠鑲嵌在一個直徑約兩厘米的塑料管中,利用環氧樹脂鑲嵌,然後利用砂紙打磨就可以了
『拾』 鑲嵌的試樣可以做xrd嗎
可以,表面平整,束斑比試樣小就行